Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
Автор:Андрей Мильвидский
» Все книги этого автора
Описание книги
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Тип:PDF Книга
Цена:392.00 руб.
Язык: Русский
Просмотры: 137
Скачать ознакомительный фрагмент
ЧТО КАЧАТЬ и КАК ЧИТАТЬ
КУПИТЬ И СКАЧАТЬ ЗА: 392.00 руб.