Mechanical Stress on the Nanoscale. Simulation, Material Systems and Characterization Techniques
Автор:
» Все книги этого автора
Описание книги
Bringing together experts from the various disciplines involved, this first comprehensive overview of the current level of stress engineering on the nanoscale is unique in combining the theoretical fundamentals with simulation methods, model systems and characterization techniques. Essential reading for researchers in microelectronics, optoelectronics, sensing, and photonics.
Тип:PDF Книга
Цена:20284.05 руб.
Язык: Английский
Просмотры: 352
Скачать ознакомительный фрагмент
ЧТО КАЧАТЬ и КАК ЧИТАТЬ
КУПИТЬ И СКАЧАТЬ ЗА: 20284.05 руб.