Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
Автор:Юрий Ягодкин
» Все книги этого автора
Описание книги
В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности.
Тип:PDF Книга
Цена:564.00 руб.
Язык: Русский
Просмотры: 147
Скачать ознакомительный фрагмент
ЧТО КАЧАТЬ и КАК ЧИТАТЬ
КУПИТЬ И СКАЧАТЬ ЗА: 564.00 руб.